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高精度X射线荧光分析仪 高精度X射线荧光（HDXRF）技术特别适用于对电气设备零部件和原材料中潜在有毒重金属检测，满足严格的精度要求。高样品产出和精细空间分辨率是电子行业的迫切需要。面对速度和精度的双重要求，基于HDXRF技术的HD M ,obile分析仪提供了一种两全其美的方案。

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Chroma Model3650 SoC测试系统 Chroma 3650 SoC测试系统可在一个测试头中，提供最多512 个数位通道，并具备高产能的平行测试功能， 最高可同时测试32 个待测晶片，以提升量产效 能。在Chroma 3650中，每片单一的LPC板拥有 64个数位通道，并结合具备高效能基础的Pin Function (PINF) IC，每一颗 PINF IC 具备4 个数 位通道的时序

日本Otsuka量子效率测量系统QE-2000/2100 ? 可瞬间测量绝对量子效率（绝对量子收率） ? 可去除再激励荧光发光 ? 采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系 ? 采用了低迷光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域的迷光

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